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開發(fā)和使用MOSFET、IGBT、二極管和其他大功率器件，需要全面的器件級檢定，如擊穿電壓、通態(tài)電流和電容測量。 Keithley參數(shù)波形記錄儀（代替原晶體管圖示儀）支持所有的設(shè)備類型和測試參數(shù)。Keithley參數(shù)波形記錄提供高功率同步電流電壓曲線測試（IV曲線測試）、電容電壓曲線測試（CV曲線測試）和高功率脈沖IV曲線測量。

特點(diǎn)

• 完善的解決方案，價格實(shí)惠且性能優(yōu)異
• 可現(xiàn)場升級和重新配置，將 PCT 轉(zhuǎn)換成可靠性或晶片分類測試儀
• 可配置功率電平：
  • 200V 至 3kV
  • 1A 至 100A
• 寬動態(tài)范圍：
  • μV 至 3kV
  • fA 至 100A
• 全量程容-電壓 (C-V) 能力：
  • fF 至 μF
  • 支持 2、3 和 4 端器件
  • 高達(dá) 3kV DC 偏移
• 高性能測試夾具支持一系列軟件包類型

• 探頭測試臺接口支持最常見的探頭類型，包括 HV 同軸三線電纜、SHV 同軸電纜、標(biāo)準(zhǔn)同軸三線電纜等