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• 10kV AC & 20kV DC 耐壓測(cè)試
• 0.1MΩ~50GΩ 絕緣電阻測(cè)試
• BDV崩潰電壓測(cè)試功能
• 電氣閃絡(luò)檢測(cè)
• HVCC高壓接觸檢查
• HFCC高頻接觸檢查
• OSC開短路偵測(cè)
• GFI人體保護(hù)電路
• 快速充放電功能
• 可程式電壓輸出及測(cè)試限制值
• 標(biāo)準(zhǔn)USB、RS232 & HANDLER介面
• 可選購GPIB介面
• CE認(rèn)證

全系列耐壓分析儀皆具有Flashover (ARC)偵測(cè) 功能。經(jīng)由設(shè)定啟始電壓、結(jié)束電壓、爬升步 序、次數(shù)及時(shí)間，進(jìn)行放電程度分析。放電程 度分析模式 (DLA)提供階段判斷方式，可設(shè)定 電氣閃絡(luò)檢測(cè) (Flashover, ARC)、絕緣崩潰檢測(cè) (Breakdown, high limit)。當(dāng)測(cè)試中有不良出現(xiàn) 時(shí)，19056/19057會(huì)依限制值顯示出耐壓強(qiáng)度 (withstanding voltage)，其分別代表電氣閃絡(luò)啟 始電壓(Flashover Start Voltage, FSV)及絕緣崩潰 電壓(BreakDown Voltage, BDV) 。在分析量測(cè)的 同時(shí)可以外掛示波器同步觀察波形。藉由這些 測(cè)試結(jié)果，研究人員可以對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行分析與研 究，針對(duì)組件絕緣較弱的部份進(jìn)行改善。